包含在瞬态场耦合套件中的场源产生瞬态电场和磁场脉冲场。通过这些场，IC被定义并可再现地脉冲化，以确定其对EFT/Burst脉冲场的抗扰性。

抗扰度测试（IEC 61000-4-4）检测的是PC板和电气设备的EFT/Burst抗扰性。在测试过程中，电场和磁场是由耦合到PC板中的EFT/Burst干扰产生的。这些场影响PC板表面并穿透IC外壳。如果磁场穿透IC，将产生干扰事件。除了IC上方EFT/Burst干扰的传导耦合外，通过磁场或电场的IC干扰也是干扰路径的重要来源。

从探头组中，将获得IC EMC相关信息，这可以简化到PC板的开发中，从而避免了昂贵的重新设计，降低了开发成本。

此外，使用测试方法来确定IC EMC参数使IC生产商能够更有效地开发IC。

测试设置需要ICE1测试系统和外部设备。场源由EFT/Burst发生器供电（IEC 61000-4-4）。交付包括高压FI-FI 1m射频电缆（Fischer连接器Fischer连接器）。根据要求，可以订购带有Fischer插座SHV插座（HV FI-SHV 1m）连接的RF电缆。

交货范围

1x P1202-4，瞬态磁场源 

1x P1202-4 50R，瞬态磁场源

1x P1302-4，瞬态电场源

1x P1302-4 50R，瞬态电场源 

1x D70 h03，3 mm间隔环 

1x D70 h10，10 mm间隔环

2x SMA-SMB 1 m，1米SMA-SMB测量电缆 

1x HV FI-SHV 1 m，1米Fischer-SHV高压电缆

运输箱及用户手册

推荐选件： HV FI-FI 1 m，1米Fischer-Fischer高压电缆

    HV FI-SHV 1 m，1米Fischer-SHV高压电缆