探头套件用于根据IEC 61967-4在IC引脚处测量传导发射

（1欧姆/150欧姆探头直接耦合测量）

对于电流和电压测量，有一个相应的探头可用。探头可以接触到每个测试IC引脚。

使用探头套件的测量保证了重复测量时的高精度和测量的可比性。Langer EMV Technik的ICE1 IC测试环境用于启动测试IC。可以使用ChipScan ESA软件进行测量。所有被测引脚的测量结果都保存在软件中，可以快速系统地进行比较。

交货范围

1x P603，1Ω射频电流探头

1x P750，150Ω射频电压探头

1x CS-ESA，ChipScan ESA软件/USB

1x SMA-SMB 1 m，1米SMA-SMB测量电缆

1x NT FRI EU，电源单元

运输箱及用户手册

        推荐选件： ICE1 set，集成电路测试环境