ICS 105 IC扫描仪允许测量IC上方的高频近场干扰。根据所使用的ICR近红外微探头，可以以50至100µm的测量分辨率测量磁场或电场。探头也可以自动旋转以确定磁场的方向。

ICS 105扫描仪可与UH-DUT通用支架和SH 01探头支架组合用于小型组件的测量。

IC扫描仪可以通过几个简单的步骤设置为对IC进行ESD或EFT抗扰度测试。

交货范围

1x ICS 105，4轴定位系统

1x CS-Scanner，扫描系统软件/USB

1x GND 25，接地平面

1x DM-CAM，数字显微镜相机

运输箱及用户手册

推荐选件： ICR探头，近场微探头系列中选择

ICI 01 L-EFT set，集成电路Langer脉冲电磁注入套件

UH DUT set，扫描仪通用支架套件

SH 01，扫描仪探头支架

技术参数