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容向公司，专业的集成电路电磁兼容测试设备专业供应商紧密合作，能提供芯片级电磁兼容测试系统全套解决方案。
系统主要设备制造商：
德国Langer
EMV-Technik公司
专业的集成电路电磁兼容测试系统和测试设备供应商
德国罗德与施瓦茨公司
专业的电磁兼容测试系统和测试设备供应商
美国FCC公司
专业的集成电路电磁兼容测试环境及电流注入钳供应商
目前集成电路电磁兼容测试的国际标准：
● IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试：
第一部分：通用条件和定义（参考SAE J1752.1
第二部分：辐射发射测量方法——TEM小室法（参考SAE J1752.3）
第三部分：辐射发射测量方法——表面扫描法（参考SAE J1752.2）
第四部分：传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法
第五部分：传导发射测量方法——法拉第笼法WFC
第六部分：传导发射测量方法——磁场探头法
● IEC62132标准，用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试：
第一部分：通用条件和定义
第二部分：辐射抗扰度测量方法—— TEM小室法
第三部分：传导抗扰度测量方法——大量电流注入法（BCI）
第四部分：传导抗扰度测量方法——直接射频功率注入法（DPI）
第五部分：传导抗扰度测量方法——法拉第笼法（WFC）
第八部分：辐射抗扰度的测量—带状线法
第九部分：辐射抗扰度的测量—表面扫描法
第二部分：传导抗扰度测量方法——同步脉冲注入 法
第三部分：传导抗扰度测量方法——随机脉冲注入法参考
IC EMI测试，分辨率可达50µm
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