P1202 / P1301 L-ESD set H 0.2/2.5 ns E 0.2/5.5 ns Langer脉冲静电放电耦合套件

包含在脉冲静电放电耦合套件中的场源产生非常快的ESD脉冲电场和磁场。通过这些场，IC被定义并可再现地脉冲化，以确定其对ESD场的抗扰度。

抗扰度测试（IEC 61000-4-2）是验证PC板和电气设备的ESD抗扰性。在测试过程中，标准ESD脉冲场和非常快的电场和磁场（200ps）是由耦合到PC板上的ESD干扰产生的。这些场影响PC板表面并穿透IC外壳。如果磁场穿透IC，将产生干扰。除了IC上方ESD干扰的传导耦合外，通过磁场或电场的IC干扰也是干扰路径的重要来源。

从探头组中，将获得IC EMC行为的知识，这可以简化到PC板的开发中。避免了昂贵的重新设计，降低了开发成本。

此外，使用测试方法来确定IC EMC参数使IC生产商能够更有效地开发IC。

测试设置需要ICE1测试系统和外部设备。

交货范围

1x P1202 L-ESD，0.2/2.5 ns Langer脉冲静电放电磁场源

1x P1301 L-ESD，0.2/5.5 ns Langer脉冲静电放电电场源

1x BPS 203，瞬态功率发生器

1x BPS 203-Client，BPS 203客户端软件

2x SMA-SMB 1 m，1米SMA-SMB测量电缆

1x HV FI-FI 1 m，1米Fischer-Fischer高压电缆

1x FBK 12P 1m，控制电缆

1x USB-AB，A-B型USB电缆