包含在ESD磁场耦合套件中的场源产生了ESD磁场。有了这个场，IC被定义并可再现地脉冲化，以确定它们对ESD场的抗扰度。

抗扰度测试（IEC 61000-4-2）是为了验证PC板和电气设备的ESD抗扰性。在测试过程中，电场和磁场是由耦合到PC板上的ESD干扰产生的。这些场影响PC板表面并穿透IC外壳。如果磁场穿透IC，将产生干扰事件。除了IC上方ESD干扰的传导耦合外，通过磁场或电场的IC干扰也是干扰/干扰路径的重要来源。

将获得的有关IC EMC行为的知识简化为组件的开发。因此，避免了昂贵的重新设计，降低了开发成本。

此外，使用测试方法来确定IC EMC参数使IC生产商能够更有效地开发IC。

测试设置需要ICE1测试系统和外部设备。

交货范围

1x P1202-2，ESD磁场源

1x BPS 203，瞬态功率发生器

1x BPS 203-Client，BPS 203客户端软件

1x D70 h03，3mm间隔环

1x D70 h10，10mm间隔环

2x SMA-SMB 1 m，1米SMA-SMB测量电缆

1x USB-AB，A-B型USB电缆

1x P1202-2 acc，配件

1x NT Ex EU，电源单元

运输箱及用户手册