A100/A200 光纤化探头(模拟)
A100/A200 光纤化探头(模拟)

在有干扰情况下的信号分析,光纤化探头A100/A200,用于在抗扰度测试中监视被测物(EUT)关键信号的受干扰情况。在射频、脉冲群或静电放电等抗扰度测试中,如果电子模块出现功能故障,就需要采用无干扰方式的测量EUT内部工作电压或者模拟电路的工作点。EUT内部放置一个带有串行ADC的小传感器,ADC的转换结果通过光纤(可长达20米)输出到一个带有串行DAC的光接收器,光接收器把数字信号还原为模拟电压值,可以在示波器或电压表上进行评估。ADC的采样速率可达3Msps,检测的值在0-50V分辨率为12 bit 。

A100/A200可以用于产品开发期间,方便开发人员迅速查明被测单元的故障源,检查设计更改的效果。


  • 产品参数
  • 适用范围
  • 产品描述
  • 参数配置

EMC测试实验室、汽车或工业电子的开发人员,使用A100/A200后,就能测量很强电磁场环境下的模拟信号:

 ● 对RF辐射发射和传导发射的耦合情况,包括在暗室、TEM小室或者带状线内进行的辐射敏感度测试,以及传导敏感度测试;

 ● 对快速电瞬变脉冲群和静电放电等瞬态信号的耦合情况;

 ● 对高电压信号的耦合情况。


传感器技术参数:

 ● 尺寸:34 x 10 x 7 mm 

 ●  输入阻抗:100 kΩ

 ● 工作电压:3 - 16 Volt 

 ● 电流:约3mA   


A100/A200 光纤化探头(模拟)

A100/A200 光纤化探头(模拟)

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