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手持单探头EMI调试方案
手持单探头EMI调试方案

为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场测量可以很方便的实现定位的功能,甚至可以精确到IC引脚以及具体的走线。容向公司提供各类近场探头,测试频率高达6GHz,可用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况。


手持单探头EMI调试方案点击下载《Langer近场探头》产品资料.pdf


  • 产品参数
  • 适用范围
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近场测量的目的

EMC标准认证测试,是远场测试。远场测试能给出频率信息,即哪些频点超标了,但是没有位置信息。为了通过测试,需要从源头上来采取措施,所以需要应用近场测量来寻找干扰源。近场测量方法得到的信息,能定位干扰源,从而采取相应措施以减少电磁干扰。

 

近场探头的用途:

 ● 主要应用于查找干扰源,判定干扰产生的原因。

 ● 可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度。

 ● 可以检测磁场耦合的通道,从而调整连接器或者是显示器位置

 ● 可以检测模块附近的磁场环境情况。


特色:

 ● 宽频率范围,多种形状的探头,可以完成几乎所有的电磁场测试任务。

 ● 通过移动探头可以检测出磁场的方向和分布,适用于IC引脚区域、滤波电容、EMC器件等的磁场检测;电场近场探头可以检测导体表面产生的电场。

 ● 无源探头,可以直接连到频谱分析仪或者示波器的50欧姆输入端,方便检查使用不同手段对磁场或者电流的变化。

 ● 使用方便,重量轻,安装快捷。


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