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E1抗干扰开发系统
E1抗干扰开发系统

E1抗干扰开发系统,帮助你的产品顺利通过:

快速瞬变电脉冲群测试(EN61000-4-4, GB/T-17626.4),或者

静电放电测试(EN61000-4-2, GB/T-17626.2)!

从PCB入手,排除快速瞬变电脉冲群和静电抗干扰问题——E1


E1抗干扰开发系统点击下载《E1抗干扰开发系统》产品资料.pdf


  • 产品参数
  • 适用范围
  • 产品描述
  • 参数配置


如果产品不能通过EFT或ESD测试,我们一般只能采用复杂的屏蔽或者滤波。E1抗干扰开发系统E1为你提供了一种崭新的,节省成本而又高效的方法。E1系统能帮助你定位系统的敏感点并找出有效的手段使得你的产品尽早通过标准测试。


基于四种策略的故障排除方法:

1. 通过SGZ21发生器对PCB直接加干扰,分析干扰电流路径

2. 用场源来定位故障点

3. 测量磁突发场来跟踪干扰电流

4. 监测PCB上的关键的逻辑信号

 

解决问题的系统性的方法:

-   再现标准测试期间出现的问题,分析干扰电流路径。

-   在场源的帮助下,定位易受干扰影响的连线和器件。

-   还可以监测关键的逻辑信号并测量磁干扰场。


E1抗扰度开发系统包括的内容:

突发干扰信号发生器SGZ21

传感器S31

磁场探头MS02

磁场场源探头BS02,BS04DB,BS05D,BS05DU

电场场源探头ES00,ES01,ES02,ES05D,ES08D



E1抗干扰开发系统


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