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集成电路EMC实验室
集成电路EMC实验室

容向公司,专业的集成电路电磁兼容测试设备专业供应商紧密合作,能提供芯片级电磁兼容测试系统全套解决方案。

系统主要设备制造商:

 

集成电路EMC实验室

 

德国Langer

EMV-Technik公司

专业的集成电路电磁兼容测试系统和测试设备供应商

 

集成电路EMC实验室

 

德国罗德与施瓦茨公司

专业的电磁兼容测试系统和测试设备供应商

 

集成电路EMC实验室

 

美国FCC公司

专业的集成电路电磁兼容测试环境及电流注入钳供应商


  • 产品参数
  • 适用范围
  • 产品描述
  • 参数配置

目前集成电路电磁兼容测试的国际标准:

●  IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试:

第一部分:通用条件和定义(参考SAE J1752.1

第二部分:辐射发射测量方法——TEM小室法(参考SAE J1752.3)

第三部分:辐射发射测量方法——表面扫描法(参考SAE J1752.2)

第四部分:传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法

第五部分:传导发射测量方法——法拉第笼法WFC

第六部分:传导发射测量方法——磁场探头法

●  IEC62132标准,用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试:

第一部分:通用条件和定义

第二部分:辐射抗扰度测量方法—— TEM小室法

第三部分:传导抗扰度测量方法——大量电流注入法(BCI)

第四部分:传导抗扰度测量方法——直接射频功率注入法(DPI)

第五部分:传导抗扰度测量方法——法拉第笼法(WFC)

第八部分:辐射抗扰度的测量—带状线法

第九部分:辐射抗扰度的测量—表面扫描法

 ●  IEC62215标准,用于集成电路脉冲抗扰度测试:

第一部分:通用条件和定义

第二部分:传导抗扰度测量方法——同步脉冲注入 法

第三部分:传导抗扰度测量方法——随机脉冲注入法参考



  集成电路的电磁兼容测试环境 

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  集成电路的电磁发射测试

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IC EMI测试,分辨率可达50µm

  集成电路的信息安全测试

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