本文发表于2006年5月份的  详细介绍了如何使用E1抗干扰开发系统进行电子产品EFT/ESD问题的测量，敏感点定位，以及电路修改的有效性评估。
发表于2004年6月1日-15日的  本文介绍用EMSCAN电磁干扰扫描系统获得PCB完整电磁信息的方法，并介绍如何利用这些信息来帮助设计和调试。
发表于2003年9月13日的 本文介绍利用高速自动扫描技术测量电磁辐射，检测PCB板上电磁场的变化情况，使工程技术人员在进行电磁兼容性标准测试前就能发现相关问题并及时予以纠正。
本文用测量实例，详细阐述EMSCAN在电子产品设计中的应用，包括：评估PCB的设计质量，在调试PCB中的应用，快速准确定位电磁干扰源，定位EMC测试（发射及传导）失败的原因，定位EMS（辐射敏感度及传导敏感度）失败的原因。
详细描述了一个使用EMSCAN对PCB进行的测量实例。（1.5M字节）
介绍PCB元件面和焊接面的空旷区域是否应该敷铜，如何敷铜。
介绍数字电路中感性串扰及共模辐射的形成。
8. 使用比较噪声发生器（CNE）对电波暗室EMC测量的评估
电波暗室主要用于EMC的辐射发射(RE)和辐射抗扰性(RI)测试，频率范围在30MHz - 1GHz，可能需要扩展到18GHz，甚至40GHz。本文提供了三个暗室的测试结果，清楚地证明CNE快速评估暗室响应的作用，它也启示读者在分析结果时关注什么。
文中介绍了在交流供电电源线上的测试谐波和闪烁的原因。然后阐述了测试中的问题。描述了York EMC HFG01谐波和闪烁校验工具及使用概要。给出了HFG01的典型数据。结尾的图给出了使用HFG01对谐波/闪烁测试系统进行日常检验的测量数值。
本文介绍使用CGE梳状信号发生器对小型机箱（例如计算机主机机箱等）的高频屏蔽性能（1GHz-40GHz）进行测试的方法。
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